[发明专利]一种微电极原位穿刺植株叶片的固定方法有效

专利信息
申请号: 201410026115.8 申请日: 2014-01-21
公开(公告)号: CN103776675A 公开(公告)日: 2014-05-07
发明(设计)人: 毛连纲;颜冬冬;沈锦;刘鹏飞;曹坳程;王秋霞;李园;郭美霞;欧阳灿彬 申请(专利权)人: 中国农业科学院植物保护研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100193 北京市海淀区圆明园西*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种微电极原位穿刺植株叶片的固定方法,首先根据微电极的工作高度,通过固定装置上带夹子的铁圈将栽种有植物的花盆固定,再通过固定装置上特制铁夹将待测的植物叶片固定,最后对固定的植物进行高度位置进行微调,即可进行原位穿刺。本方法既可以方便测定活体植株上的任一叶片,又可以实现对活体植株上同一叶片的长期多次测定,而又不会破坏活体植株的完整性,具有可以大大提高测定准确度和精度等优点。
搜索关键词: 一种 微电极 原位 穿刺 植株 叶片 固定 方法
【主权项】:
一种微电极原位穿刺植株叶片的固定方法,其具体方法如下:首先根据微电极的工作高度,通过固定装置上带夹子的铁圈(4)将栽种有植物的花盆固定,再通过固定装置上特制铁夹(5)将待测的植物叶片固定,最后对固定的植物进行高度位置进行微调,即可进行原位穿刺。
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