[发明专利]晶体管加速寿命试验及工作点稳定的系统有效
申请号: | 201410016013.8 | 申请日: | 2014-01-14 |
公开(公告)号: | CN103728546A | 公开(公告)日: | 2014-04-16 |
发明(设计)人: | 张小玲;谢雪松;刘榿;吕长志;李志国 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G05D23/22 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 纪佳 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 晶体管加速寿命试验及工作点稳定的系统,属于测量技术及方法的范畴。包括了放置器件的加热热穴(101),加热平台(102),固定加热平台(102)的主机箱(106)中连接了温度控制器(107),温度显示器(103),电源偏置显示器(104),电源偏置控制器(105),所述的在加热平台(102)上有30个相同形状可放置B3型封装晶体管的加热热穴(101)。本发明能实现同时对30只同型号的晶体管进行加热和工作点稳定的功能。 | ||
搜索关键词: | 晶体管 加速 寿命 试验 工作 稳定 系统 | ||
【主权项】:
晶体管加速寿命试验及工作点稳定的系统,包括了放置器件的加热热穴(101),加热平台(102),固定加热平台(102)的主机箱(106)中连接了温度控制器(107),温度显示器(103),电源偏置显示器(104),电源偏置控制器(105);pc机(108)通过通讯端子和主机箱(106)内的电源偏置控制器(105)和温度控制器(107)相连实现对晶体管的温度及工作点的控制;其特征在于:在加热平台(102)上有30个相同形状可放置B3型封装晶体管的加热热穴(101),所述的封装晶体管的每只晶体管的三个管脚与保护电路相连,将6只所述晶体管的保护电路的放置在同一个电路板上并把电路板固定在加热平台的上方,将电路板上的连接端子连接到主机箱体(106)中的电源偏置控制器(105)上。主机箱(106)中的温度控制器(107)通过与加热平台(102)的加热装置及热偶相连实现对器件温度的控制;pc机(108)上设定工作温度及升温速率和器件的工作点电压电流值,通过通讯协议将工作点电压电流值传递给主机箱(106)的温度控制器(107)和电源偏置控制器(105);温度控制器(107)根据获取的温度值对加热平台(102)中的晶体管进行加热控制,由在加热平台(102)设置的热偶获取的信号经过温度控制器(107)转换为温度值,并显示在温度显示器(103)的显示屏上;电源偏置控制器(105)根据获取的电流电压信号对晶体管的工作点进行实时的控制,其控制值显示在电源偏置显示器(104)中,当晶体管的工作点出现偏差时,电源偏置器(104)将发生问题晶体管的信息通过通讯端口传递给pc机(108上,提醒用户对该器件采取相应的措施。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410016013.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。