[发明专利]一种晶体管失配的校准方法及其校准系统在审
| 申请号： | 201410013640.6 | 申请日： | 2014-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN104779927A | 公开（公告）日： | 2015-07-15 |
| 发明（设计）人： | 王龙伟;杨少军 | 申请（专利权）人： | 北京卓锐微技术有限公司 |
| 主分类号： | H03F3/45 | 分类号： | H03F3/45 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;朱世定 |
| 地址： | 100191 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种晶体管失配的校准方法及其校准系统，该方法包括：S1：将需要校准的第一主晶体管和第二主晶体管分别拆分为n个子晶体管，每个子晶体管的连接端具有两种接入方式；S2：按照每个子晶体管接入不同的主晶体管进行组合；S3：测试每种组合形式下产生的失调值的大小得到最佳校准组合。该系统包括：放大器，用于对主晶体管对的失调值放大；采样保持电路，用于对放大后的失调值进行采样；比较器，与所述采样保持电路相连，比较不同的子晶体管组合形式下产生的失调值的大小；触发器，用于存储子晶体管的最佳组合接入方式。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 晶体管 失配 校准 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种晶体管失配的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：将需要校准的第一主晶体管和第二主晶体管分别拆分为n个子晶体管，形成共2n个子晶体管，每个子晶体管的连接端具有两种接入方式，分别用以接入第一主晶体管或第二主晶体管；其中n为自然数；S2：按照每个子晶体管接入不同的主晶体管的形式进行组合，形成共2n‑1种组合形式；S3：测试每种组合形式下产生的失调值的大小，则失调值最小的组合形式即为最佳校准组合。
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