[发明专利]基于非线性纳米材料的超连续谱脉冲激光测量装置及方法有效
申请号: | 201410007343.0 | 申请日: | 2014-01-07 |
公开(公告)号: | CN103776550A | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 赛灵;于佳鑫;蔡夫鸿 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01J11/00 | 分类号: | G01J11/00 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
地址: | 310027*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于非线性纳米材料的超连续谱脉冲激光测量装置及方法。本发明包括1/2波片、偏振分光器件、电动步进电机、第一高反射镜片、第二高反射镜片、第三高反射镜片、激光线滤光片、聚焦透镜、光子晶体光纤、准直透镜、滤光片、第四高反射镜片、第五高反射镜片、消色差聚焦透镜、非线性纳米材料、收集聚焦透镜、光谱仪、PC机。本发明中探测光路由光学延迟系统改变光程,激发光路传输了超连续谱脉冲激光。通过激光线滤光片将激发-探测光路进行整合,并由聚焦系统会聚到纳米材料上,激发和频光谱。本发明通过移动步进电机,并同步检测和频光谱,完整的探测超连续谱激光脉冲的特征。 | ||
搜索关键词: | 基于 非线性 纳米 材料 连续谱 脉冲 激光 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
基于非线性纳米材料的超连续谱脉冲激光测量装置,其特征在于包括1/2波片、偏振分光器件、电动步进电机、第一高反射镜片、第二高反射镜片、第三高反射镜片、激光线滤光片、聚焦透镜、光子晶体光纤、准直透镜、滤光片、第四高反射镜片、第五高反射镜片、消色差聚焦透镜、非线性纳米材料、收集聚焦透镜、光谱仪、PC机;1/2波片设置在偏振分光器件正前方,用于改变偏振分光比;超短脉冲激光通过1/2波片后进入偏振分光器件分光,偏振分光器件将超短脉冲激光分为两路激光;其中一路激光通过聚焦透镜会聚到光子晶体光纤的一个端面,在超短脉冲激光与光子晶体光纤的相互作用中,超短脉冲激光被转换为超连续谱激光;超连续谱激光从光子晶体光纤的另一个端面出射,经过准直透镜后准直输出;该路激光定义为激发光路;另外一路超短脉冲激光进入光学延迟系统,改变该路超短脉冲激光的光程,并沿原方向出射,该路激光定义为探测光路;激发光路通过第四高反射镜片和第五高反射镜片调节传输方向后,以角度A照射到激光线滤光片的镀膜面,其中激发光路中的超连续脉冲激光被反射;探测光路角度B照射到激光线滤光片并透射;激发光路和探测光路在激光线滤光片的镀膜面上实现传播光路的重合,此重合光路定义为激发‑探测光路;将激发‑探测光路垂直入射到消色差聚焦透镜的入口,激发‑探测光路通过消色差聚焦透镜聚焦于放置在透镜的焦面上的非线性纳米材料;激发‑探测光路与非线性纳米材料相互作用,并产生二次非线性信号;PC机同时与电动步进电机和光谱仪相连接,且光谱仪与收集聚焦透镜光纤连接;光谱仪用于检测传输的二次非线性信号。
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