[发明专利]记录介质辨别装置以及记录介质辨别方法有效
| 申请号： | 201410007206.7 | 申请日： | 2014-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN103913123B | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | 远藤恒延 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人： | 黄威;苏萌萌 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及记录介质辨别装置以及记录介质辨别方法。其提供了能够简单且高精度地辨别记录介质的厚度的技术。记录介质辨别装置具备：光照射部（LS），其朝向记录介质（M）照射光；受光部（LD），其对从光照射部被照射的光在记录介质上被漫反射后的漫反射光进行受光；反射部（RP），其能够对从光照射部照射并透射过记录介质的透射光进行反射并使之再次入射到记录介质上；切换部，其对反射状态进行切换以使反射部成为不同的反射率；辨别部，其根据以不同的反射状态被反射部反射并由受光部受光的多个所述漫反射光的光量的比值，来对记录介质的厚度进行辨别。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 介质 辨别 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种记录介质辨别装置，其特征在于，具备：光照射部，其朝向记录介质照射光；受光部，其对从所述光照射部被照射的光在所述记录介质上被漫反射后的漫反射光进行受光；反射部，其能够对从所述光照射部照射并透射过所述记录介质的透射光进行反射并使之再次入射到所述记录介质上；切换部，其对反射状态进行切换以使所述反射部成为反射率不同的高反射状态和低反射状态；辨别部，其根据低反射状态下被受光的所述漫反射光的光量与在高反射状态下被受光的所述漫反射光的光量的比值，来对所述记录介质的厚度进行辨别。
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