[发明专利]用于校准坐标测量仪的装置和方法有效
| 申请号： | 201380077043.3 | 申请日： | 2013-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN105247319B | 公开（公告）日： | 2018-07-10 |
| 发明（设计）人： | N·哈弗坎普 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/04 | 分类号： | G01B21/04;G01B1/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 韩长永 |
| 地址： | 德国奥*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校准坐标测量仪的装置，其中，所述装置(1)包括至少一个校准元件(2，2a，2b)，所述校准元件(2，2a，2b)具有多个表面区段，其中，相互抵接的表面区段构成一棱(KK)，其中，所述装置(1)包括至少一个保持装置(3)，其中，所述校准元件(2，2a，2b)设置在所述保持装置(3)的表面区段(HE2)上，其中，所述校准元件(2，2a，2b)的表面区段彼此设置为使得所述校准元件(2，2a，2b)具有至少一个棱(KK)，当将所述至少一个棱和所述校准元件(2，2a，2b)的其他棱(KK)投影到一共同的投影平面中时，所述至少一个棱不与所述其他棱(KK)重叠，其中，所述投影平面正交于所述保持装置(3)的表面区段(HE2)的法向量取向，以及涉及一种用于校准坐标测量仪的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 校准元件 表面区段 保持装置 坐标测量 校准 投影平面 法向量 抵接 取向 正交 投影 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准坐标测量仪的装置，其中，所述装置(1)包括至少一个校准元件(2，2a，2b)，所述校准元件(2，2a，2b)具有多个表面区段，其中，相互抵接的表面区段构成一棱(KK)，其中，所述装置(1)包括至少一个保持装置(3)，其中，所述校准元件(2，2a，2b)设置在所述保持装置(3)的表面区段(HE2)上，其中，所述校准元件(2，2a，2b)的表面区段彼此设置为使得所述校准元件(2，2a，2b)具有至少一个棱(KK)，当将所述至少一个棱和所述校准元件(2，2a，2b)的其他棱(KK)投影到一共同的投影平面中时，所述至少一个棱不与所述其他棱(KK)重叠，其中，所述投影平面正交于所述保持装置(3)的表面区段(HE2)的法向量取向，其特征在于，所述保持装置(3)具有至少一个开口(D)，其中，所述至少一个校准元件(2，2a，2b)至少部分地设置在所述开口(D)上方。
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