[发明专利]通过MPI法和MRI法对测量目标进行顺序检查的装置

摘要

本发明涉及一种用于通过MPI和通过MRI交替地检查测量目标(170)的装置，所述装置包括至少两个产生磁场的元件，在用于MRI运行的第一检查空间(162)中产生均匀的磁场，在用于MPI运行的第二检查空间(161)中产生在空间上强烈变化的磁场分布，其场矢量在所有空间点处在方向和/或数值上都是不同的并且在一个空间点处具有为零的场数值，并且所述装置包含用于产生驱动场的电阻式的驱动场线圈系统(140)和电阻式的MRI梯度线圈系统(130)，其特征在于，所述装置包括主磁线圈系统，所述主磁线圈系统具有两个同轴的、关于垂直于z轴的通过第一检查空间(162)的中平面径向对称设置的分线圈系统(100a1、100a2；100b2、100b1)，各检查空间重叠，设有极性变换装置(190)，用于使通过一个分线圈系统的电流发生极性变换，以及主磁线圈系统在分线圈的极性相同时在第一检查空间中产生至少6阶的均匀磁场，以及在极性相反时在第二检查空间中产生在空间上强烈变化的磁场分布。由此简化或者甚至取消了对测量目标的移位。

主权项

用于通过MPI(＝“磁粒子成像”)和通过MRI(＝“磁共振成像”)交替地检查测量目标(170)的装置，所述装置包括至少两个产生磁场的元件，其中，所述装置具有用于MRI运行的第一检查空间(162)和用于MPI运行的第二检查空间(161)，在第一检查空间中产生均匀的磁场，在第二检查空间中产生在空间上强烈变化的磁场分布，所述磁场分布的场矢量在所有空间点处在方向和/或数值上都是不同的并且在一个空间点处具有为零的场数值，并且所述装置包含用于产生驱动场的电阻式的驱动场线圈系统(140)和电阻式的MRI梯度线圈系统(130)，其特征在于，所述装置包括绕z轴设置的主磁线圈系统，所述主磁线圈系统具有两个同轴的、关于垂直于z轴的通过第一检查空间(162)的中平面径向对称设置的分线圈系统(100a1、100a2；100b2、100b1)，第一和第二检查空间(162、161)至少部分重叠，设有极性变换装置(190)，用于使通过其中一个分线圈系统(100a1、100a2；100b2、100b1)的电流发生极性变换，并且主磁线圈系统设计成，使得在MRI模式中在各分线圈系统(100a1、100a2；100b2、100b1)的极性相同时在第一检查空间(162)中产生至少6阶的均匀磁场，以及在MPI模式中在存在相反串联的极性时在第二检查空间(161)中产生具有在空间上强烈变化的磁场分布的沿Z方向的磁场梯度，所述磁场梯度包括无场点，设有线性调节的电源件(180)，所述电源件给主磁线圈系统提供在ppm范围内保持稳定的直流电流。