[发明专利]基于老化的泄漏能量减小方法和系统在审
| 申请号： | 201380069631.2 | 申请日： | 2013-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN104995841A | 公开（公告）日： | 2015-10-21 |
| 发明（设计）人： | M·波特科尼亚克 | 申请（专利权）人： | 英派尔科技开发有限公司 |
| 主分类号： | H03K19/00 | 分类号： | H03K19/00 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 孟锐 |
| 地址： | 美国特*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文一般地描述减小与后硅目标电路相关联的泄漏能量的技术。一种示例方法包括基于针对性的度量有目的地老化目标电路中的多个门，所述针对性的度量包括与目标电路相关联的时序约束。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 老化 泄漏 能量 减小 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种减小与后硅目标电路相关联的泄漏能量的方法，所述方法包括：基于针对性的度量有目的地老化所述目标电路中的多个门，所述针对性的度量包括与所述目标电路相关联的时序约束。
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