[发明专利]用于输入/输出缓冲器电路的评估的方法、系统和装置有效
| 申请号： | 201380044062.6 | 申请日： | 2013-06-14 |
| 公开（公告）号： | CN104541174B | 公开（公告）日： | 2017-02-22 |
| 发明（设计）人： | C.J.纳尔逊;T.M.马克;D.J.齐默曼;P.D.富格特 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G01R29/02 | 分类号： | G01R29/02;G01R31/317;G11C7/10 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 马红梅,姜甜 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了用于评估I/O缓冲器电路的技术和机制。在实施例中，执行针对设备的测试循环，所述设备包括I/O缓冲器电路，每一个测试循环包括针对每一个I/O缓冲器电路的相应回送测试。每一个测试循环对应于发射时钟信号与接收时钟信号之间的不同相应延迟。在另一实施例中，第一测试循环指示针对至少一个I/O缓冲器电路的失效条件，并且第二测试循环指示针对每一个I/O缓冲器电路的失效条件。I/O缓冲器电路的评估确定设备是否满足测试条件，其中该确定基于对应于第一测试循环的延迟与对应于第二测试循环的延迟之间的差异。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 输入 输出 缓冲器 电路 评估 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
一种用于输入/输出缓冲器电路的评估的装置，包括：测试控制逻辑，执行针对设备的测试循环，所述设备包括均包括相应发射路径和相应接收路径的I/O缓冲器电路，每一个测试循环包括针对每一个I/O缓冲器电路的相应回送测试，每一个测试循环对应于第一时钟信号与第二时钟信号之间的不同相应延迟，第一时钟信号调节沿每一个I/O缓冲器电路的相应发射路径的通信，第二时钟信号调节沿每一个I/O缓冲器电路的相应接收路径的通信；失败检测逻辑，确定测试循环中的第一测试循环指示针对I/O缓冲器电路中的至少一个I/O缓冲器电路的失效条件并确定测试循环中的第二测试循环指示针对每一个I/O缓冲器电路的失效条件；以及评估逻辑，计算对应于第一测试循环的延迟与对应于第二测试循环的延迟之间的延迟差异并基于所述延迟差异生成指示所述设备是否满足测试准则的信号。
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