[发明专利]被测定物的测定方法在审
| 申请号： | 201380037589.6 | 申请日： | 2013-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN104471372A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 神波诚治;近藤孝志;白井伸明;冈田俊树;长谷川慎 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01N21/03 | 分类号： | G01N21/03;G01N21/47 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 张玉玲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是一种测定方法，其特征在于，所述测定方法是测定检体中的被测定物的有无或量的方法，其包括如下工序：过滤工序，将具有在垂直于主面的方向上贯通的多个空隙部的空隙配置结构体用作物理过滤器，从所述检体中过滤所述被测定物，将所述被测定物保持于所述空隙配置结构体；测定工序，对保持了所述被测定物的所述空隙配置结构体照射电磁波，检测因所述空隙配置结构体而被散射的电磁波的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 方法 | ||
【主权项】：
一种测定方法，其特征在于，所述测定方法是测定检体中的被测定物的有无或量的方法，其包括如下工序：过滤工序，将具有在垂直于主面的方向上贯通的多个空隙部的空隙配置结构体用作过滤器，从所述检体中过滤所述被测定物，将所述被测定物保持于所述空隙配置结构体；测定工序，对保持了所述被测定物的所述空隙配置结构体照射电磁波，检测因所述空隙配置结构体而被散射的电磁波的特性。
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