[发明专利]基于光栅的差分相位对比成像有效
| 申请号： | 201380034361.1 | 申请日： | 2013-06-20 |
| 公开（公告）号： | CN104394770B | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | R·普罗克绍 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03;A61B6/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 李光颖;王英 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种成像系统(200)被配置用于基于光栅的DPCI。所述成像系统包括：旋转机架(204)，其绕检查区域旋转；由所述旋转机架支撑的辐射源(208)，其发射贯穿所述检查区域的辐射；由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212)，其探测贯穿所述检查区域的辐射；以及由所述旋转机架支撑的干涉仪，其包括源光栅(214)、相位光栅(218)和吸收器光栅(220)。在整合周期期间，所述相位光栅或所述吸收器光栅中的至少一个相对于另一个连续地平移，并且所述探测器生成并输出指示所探测的辐射的电信号，其中，所述电信号包括吸收分量、相干分量和相位分量。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅 旋转机架 检查区域 成像系统 相位光栅 吸收器 辐射 支撑 探测 探测器阵列 辐射源 平移 差分相位 对比成像 输出指示 相干分量 相位分量 周期期间 干涉仪 源光栅 贯穿 探测器 整合 发射 配置 吸收 | ||
【主权项】：
一种被配置用于基于光栅的DPCI的成像系统(200)，包括：旋转机架(204)，其能绕检查区域旋转；由所述旋转机架支撑的辐射源(208)，其被配置为发射贯穿所述检查区域的辐射；由所述旋转机架支撑的探测器阵列(212)，其被配置为探测贯穿所述检查区域的辐射；由所述旋转机架支撑的干涉仪，其包括：源光栅(214)，相位光栅(218)，以及吸收器光栅(220)，以及参考数据确定器，其基于所述探测器阵列的输出信号至少确定所述相位光栅与所述吸收器光栅之间的相对全局相位，其中，在整合周期期间，所述相位光栅和所述吸收器光栅被配置为相对于另一个以相反方向连续地平移，并且所述探测器被配置为生成并输出指示所探测的辐射的电信号，其中，所述电信号包括吸收分量、相干分量和相位分量。
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