[发明专利]用于运行计算机断层成像设备的方法和计算机断层成像设备有效
| 申请号： | 201380030328.1 | 申请日： | 2013-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN104380142B | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | H.布鲁德;T.弗洛尔 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于运行计算机断层成像设备(2)的方法，所述断层成像设备包括具有检测器基本面(24)和检测器中心(18)的X射线检测器(6)，其中为了检测X射线，传感器像素(22)在检测器基本面(24)上不均匀分布地布置，并且其中或者选择螺距系数并且根据传感器像素(22)在检测器基本面(24)上的分布以及根据选择的螺距系数，对于图像数据整理确定用于重建场的尺寸(RR)的值域，或者选择用于重建场(RR)的尺寸的值并且根据传感器像素(22)在检测器基本面(24)上的分布以及根据选择的用于重建场的尺寸(RR)的值，确定用于螺距系数的值域。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 基本面 断层成像设备 传感器像素 螺距系数 运行计算机 重建 计算机断层成像设备 不均匀分布 检测器中心 检测X射线 图像数据 | ||
【主权项】：
一种用于运行计算机断层成像设备(2)的方法，所述断层成像设备包括具有检测器基本面(24)和检测器中心(18)的X射线检测器(6)，其中，为了检测X射线，传感器像素(22)在检测器基本面(24)上不均匀分布地布置，并且其中，‑或者选择螺距系数并且根据传感器像素(22)在检测器基本面(24)上的分布以及根据所选择的螺距系数，对于图像数据整理确定用于重建场的尺寸(RR)的值域，‑或者选择用于重建场的尺寸(RR)的值并且根据传感器像素(22)在检测器基本面(24)上的分布以及根据所选择的用于重建场的尺寸(RR)的值，确定用于螺距系数的值域。
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