[发明专利]荧光观察方法和荧光观察设备有效
| 申请号： | 201380016595.3 | 申请日： | 2013-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN104204779B | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 藤田克昌;永井健治;齐藤健太;山中真仁;泷本真一 | 申请（专利权）人： | 奥林巴斯株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B21/00;G01N33/58 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人： | 吕俊刚,刘久亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种荧光观察方法，其中可在不需要多种激发波长的情况下并且利用简单光学结构同时观察从多种荧光分子发射的多种荧光，荧光分子用作其荧光标签的被观察对象几乎不受损伤，并且可使用通常用作用于荧光观察的光学材料的玻璃，并且提供了一种荧光观察设备。根据本发明的用于检测从两种或更多种荧光分子发射的多种荧光的荧光观察方法包括以下步骤利用可见区中的具有等于或小于700nm的激发激发波长的光使两种或更多种荧光分子的每种经受多光子激发，以在利用两种或更多种荧光分子的每种的深紫外区中的吸收波长带时产生荧光；以及同时检测在激发光的激发波长的较短波长侧或较短波长侧和较长波长侧二者上产生的多种荧光。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 观察 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于检测从两种或更多种荧光分子发射的多种荧光的荧光检测方法，其特征在于，该荧光观察方法包括以下步骤：通过可见区中的具有等于或小于525nm的激发波长的激发光对两种或更多种荧光分子的每种进行多光子激发，以利用所述两种或更多种荧光分子的每种的深紫外区中的吸收波长带将所述两种或更多种荧光分子的每种多光子激发为第2激发态以上来产生荧光；以及同时检测在激发光的激发波长的短波长侧、或短波长侧和长波长侧二者上产生的多种荧光。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥林巴斯株式会社，未经奥林巴斯株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380016595.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：液体中的元素分析装置
- 下一篇：用于光学评估的方法和系统以及光学检测器
