[发明专利]用于对散射光测量仪进行校准的装置有效
| 申请号： | 201380005961.5 | 申请日： | 2013-01-14 |
| 公开（公告）号： | CN104053981A | 公开（公告）日： | 2014-09-17 |
| 发明（设计）人： | K.施滕格尔;A.马托伊西;G.哈加;M.纽恩多夫;R.霍斯;D.施特拉克 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01N21/47 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李永波;傅永霄 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 建议一种用于对散射光测量仪进行校准的校准装置（30），所述散射光测量仪尤其构造用于测量在机动车的废气中的颗粒浓度。所述校准装置（30）具有至少一个散射体（34），该散射体在用光束（17a）照射时发出具有所定义的强度和分布状况的散射光（20’a、20’b），其中所述散射体（34）具有用于所述散射光的发射面（35），为所述发射面分配了至少一个用于对在所述发射面（35）上发出的散射光（20’a、20’b）进行检测的光敏元件（15a、15b）。为所述散射体（34）的发射面（35）分配了一个具有至少一个滤光口（38）的滤光体（37），通过所述滤光口（38）朝所述至少一个光敏元件（15a、15b）的方向发出所述散射光（20’a、20’b）。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 散射 测量仪 进行 校准 装置 | ||
【主权项】：
用于对散射光测量仪进行校准的校准装置（30），其尤其构造用于测量在机动车的废气中的颗粒浓度，所述校准装置具有至少一个散射体（34），该散射体在用光束（17a）照射时发出具有所定义的强度和分布状况的散射光（20’a、20’b），其中所述散射体（34）具有用于所述散射光（20’a、20’b）的发射面（35），为所述发射面分配了至少一个用于对在所述发射面（35）上发出的散射光（20’a、20’b）进行检测的光敏元件（15a、15b），其特征在于，为所述散射体（34）的发射面（35）分配了一个具有至少一个滤光口（38）的滤光体（37），所述散射光（20’a、20’b）通过所述滤光口（38）朝所述至少一个光敏元件（15a、15b）的方向发出。
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