[发明专利]多通道系统测试方法及装置有效
| 申请号： | 201380003290.9 | 申请日： | 2013-03-26 |
| 公开（公告）号： | CN105594145B | 公开（公告）日： | 2018-06-12 |
| 发明（设计）人： | 张武荣;周蓉 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/354 | 分类号： | H04B17/354;H04B17/309 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 刘芳 |
| 地址： | 518129 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多通道系统测试方法及装置，包括：对至少一路原始数据块信号进行非相关处理，得到N路非相关测试模块子信号；将N路非相关测试模块子信号一对一地通过N个发射通道发射；N为自然数。由于通过非相关处理后得到的N路非相关测试模块子信号，其测得ACLR(θ,φ)或者EVM(θ,φ)能等效于单通道系统的测试参数，所以能够准确的体现多通道系统的射频指标，避免受到各发射通道的影响。依据N路非相关测试模块子信号对多通道的射频指标进行测量，其测量结果避免了各发射通道的相关度对多通道系统的测量结果的影响，有效地提高了测量的效率，在保证测量准确的同时，降低了测量的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 多通道系统 测试模块 路非 发射通道 测量 测试方法及装置 射频指标 原始数据块 测试参数 单通道 多通道 相关度 有效地 一对一 发射 保证 | ||
【主权项】：
一种多通道系统测试方法，其特征在于，包括：对至少一路原始数据块信号进行非相关处理，得到N路非相关测试模块子信号，N路所述非相关测试模块子信号两两之间的带内信号相关度均为0；将N路所述非相关测试模块子信号一对一地通过N个发射通道发射；所述N为自然数。
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