[实用新型]一种测试分选机的测试机构有效
| 申请号： | 201320830660.3 | 申请日： | 2013-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN203778364U | 公开（公告）日： | 2014-08-20 |
| 发明（设计）人： | 阳天赐;劳建音 | 申请（专利权）人： | 深圳市三浦半导体有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区福永街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。在一个具体的实施例中，所述每个测试爪中测试探针的数量为三个。本实用新型的测试机构，使得当其中一个测试爪中的某个测试探针与其对应的管脚接触不良时，可以采用另一个测试爪中相应的测试探针，从而保证了测试数据的准确性，降低了误判率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 分选 机构 | ||
【主权项】：
一种测试分选机的测试机构，包括固定在设备上的由多个测试探针组成的测试爪，其特征在于：所述测试爪的数量为两个，其中一个测试爪位于待测工件的上方，用于与测试管脚的上端面接触；另一个测试爪位于待测工件的下方，用于与测试管脚的下端面接触，两个测试爪中相应的测试探针相互导通。
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