[实用新型]老化测试板

摘要

本实用新型提出了一种老化测试板，用于检测待测芯片的可靠性，包括：芯片放置单元、插槽以及由芯片连线单元、保护电路和机台连线单元组成的连线单元，芯片连线单元与芯片放置单元电路连接，机台连线单元与插槽电路连接，保护电路设于芯片连线单元和机台连线单元之间，芯片连线单元、保护电路和机台连线单元之间均采用插拔式连线连接。插拔式连线能够反复插拔，循环使用，无须采用焊接方式连线，因此使用插拔式连线一方面能够避免对老化测试板焊接的损害，另一方面无须重新制作老化测试板，能够满足对不同产品的测试，另一方面由于存在保护电路，能够对所述老化测试板起到保护作用。

主权项

一种老化测试板，用于检测待测芯片的可靠性，其特征在于，所述老化测试板包括：芯片放置单元、连线单元以及插槽，其中，所述连线单元包括芯片连线单元、保护电路和机台连线单元，所述芯片连线单元与所述芯片放置单元电路连接，所述机台连线单元与所述插槽电路连接，所述保护电路设于所述芯片连线单元和所述机台连线单元之间，所述芯片连线单元、保护电路和机台连线单元之间均采用插拔式连线连接。