[实用新型]曝光机再次曝光校正装置有效
申请号: | 201320636264.7 | 申请日: | 2013-10-16 |
公开(公告)号: | CN203535379U | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 蒋恒亮;张永福;邓志强 | 申请(专利权)人: | 郴州恒维电子有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 郴州大天知识产权事务所(普通合伙) 43212 | 代理人: | 徐起堂 |
地址: | 424213 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种曝光机再次曝光校正装置,包括曝光平台和固定有曝光模板的盖板,还包括光标探头和显示器,所述光标探头固定于曝光机体上,该光标探头与显示器电连接,使固定有曝光模板的盖板盖上曝光平台后光标探头能读取曝光模板上的标记、显示器能显示光标探头探测的曝光模板的标记。本实用新型结构简单,使用方便,曝光精度高,质量好,生产成本低,经济效益高。 | ||
搜索关键词: | 曝光 再次 校正 装置 | ||
【主权项】:
一种曝光机再次曝光校正装置,包括曝光平台(2)和固定有曝光模板的盖板(1),其特征在于:还包括光标探头(4)和显示器(5),所述光标探头(4)固定于曝光机体上,该光标探头(4)与显示器(5)电连接,使固定有曝光模板的盖板(1)盖上曝光平台(2)后光标探头(4)能读取曝光模板上的标记、显示器(5)能显示光标探头(4)探测的曝光模板的标记。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于郴州恒维电子有限公司,未经郴州恒维电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320636264.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种铜/银异质结纳米粒子的制备方法
- 下一篇:一种污水处理用带状纤维毡填料