[实用新型]漏电过流保护插座有效

专利信息
申请号: 201320566110.5 申请日: 2013-09-12
公开(公告)号: CN203521788U 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 谭细锋 申请(专利权)人: 东莞市兆南电子电器科技有限公司
主分类号: H01R13/66 分类号: H01R13/66;H01R13/70;H01R13/713;H02H3/08;H02H3/32
代理公司: 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 代理人: 傅俊朝
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了电路元器件领域的漏电过流保护插座,包括插座面板和扣合固定在插座面板底部的通电组件,插座面板表面设有复位按键、测试按键和一组以上的插口,该通电组件由带容纳空间的保护外壳及容纳在保护外壳内部的检测电路板、复位装置和脱扣装置构成,该检测电路板上电性连接有漏电检测IC、过流保护器、可控硅、电磁线圈和两组互感器,出现漏电时检测漏电电流信号精确灵敏,精度大大提高,可根据需要分别设置漏电电流及过流值的范围值,完全可以保证在安全范围之内;脱扣反应时间快,最多不超过0.08S,有效保护人身财产安全;同一个插座上有多个插口,满足多电器独立用电,不相互干扰,单条线路的电路故障不影响其他电路的正常使用。
搜索关键词: 漏电 保护 插座
【主权项】:
漏电过流保护插座,包括插座面板和扣合固定在插座面板底部的通电组件,插座面板表面设有复位按键、测试按键和一组以上的插口,该通电组件由带容纳空间的保护外壳及容纳在保护外壳内部的检测电路板一、检测电路板二、复位装置和脱扣装置构成,并在检测电路板上方设有中盖,中盖位于检测电路板二与插座面板之间,检测电路板一位于中盖表面,检测电路板一表面设有测试开关、整流二极管一和降压电阻,测试按键底部设有测试回位弹簧和用于导通该测试开关的测试导通金属片,使测试回位弹簧位于检测电路板一与测试按键之间,按下测试按键后测试导通金属片与测试开关接触,放开测试按键后在测试回位弹簧的回弹力作用下,测试导通金属片与测试开关分离;在中盖上固定有与插口对应的一对插座铜片,插座铜片中端铆接有一对定触点,保护外壳侧面分别设有与插座铜片导通的输入火线接线端和输出零线接线端;该复位装置包括复位按键、复位弹簧和复位连杆,复位按键安装在复位连杆的顶端,复位弹簧穿入复位连杆,复位连杆穿过中盖往下延伸至中盖底部,使复位弹簧位于复位按键与中盖之间,其特征在于:该检测电路板二上电性连接有漏电检测IC、整流二极管二、电阻、电容、压敏电阻、过流保护器、可控硅、电磁线圈和两组互感器,并在检测电路板二表面设有用于触发可控硅导通的开关片,使电磁线圈工作,互感器用于检测漏电电流信号并整流滤波后送到漏电检测IC进行分析,互感器的中心孔穿有一对具有回弹力的输入动片,输入动片往前延伸至复位连杆两旁,并在输入动片末端铆接有与定触点对应的动触点,使动触点位于静触点的正下方;漏电检测IC用于分析和对比漏电电流信号值的大小标准,当漏电电流信号值小于设定值4.0mA时输出为低电平,漏电电流信号值为5mA‑6mA时输出高电平,触发可控硅导通;可控硅用于控制电磁线圈通断电,可控硅导通时使电磁线圈得电后产生磁场;电磁线圈中心安装有受磁场力动作的推动杆,推动杆平行于检测电路板二,当电磁线圈通电产生磁场力使推动杆往前推出;过流保护器由过流检测线圈和常开干簧管构成,常开干簧管穿过过流检测线圈的中心孔,过流检测线圈串接于主电路的输入火线接线端,干簧管的一端与主电路的输入火线接线端连接,其另一端串接电阻后与输出零线接线端连接;所述脱扣装置包括脱扣器和穿插于脱扣器中腰位置的脱扣片,脱扣片与脱扣装置之间安装有回位弹簧,脱扣片与检测电路板二平行,脱扣片的前端表面设有用于穿入和扣紧复位连杆的弧形长孔,脱扣片的后端设有用于与推动杆接触的档板,使推动杆在磁场力作用下往前推动的同时带动脱扣片在脱扣器的中腰往前移动,并在回位弹簧的作用下复位;在脱扣器底部设有与检测电路板二表面的开关片接触的双金属片,双金属片与开关片接触后触发可控硅导通使电磁线圈通电产生磁场力,脱扣器的两端设有用于起支撑作用的支撑块,支撑块与动触点连接,并在支撑块下方设有防止动触点与检测电路板二接触的限位弹簧,脱扣器的顶部中心设有用于穿入复位连杆的中心透孔,该复位连杆底部设有用于卡紧脱扣片的卡环,复位连杆从中心透孔穿入后使卡环紧扣弧形长孔,复位连杆在复位弹簧的弹力作用下回弹上升的过程中,带动动触点上升后使动触点与静触点接触。
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