[实用新型]触控面板测试用探针结构有效
| 申请号： | 201320562159.3 | 申请日： | 2013-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN203465300U | 公开（公告）日： | 2014-03-05 |
| 发明（设计）人： | 徐建文 | 申请（专利权）人： | 徐建文 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 翟国明 |
| 地址： | 中国台湾桃园*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种触控面板测试用探针结构，其包括一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，前端突出杆体开口，前端具有一熔锡；借由如上结构，一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的熔锡来接触测试触控面板上的电路组件，而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。 | ||
| 搜索关键词： | 面板 测试 探针 结构 | ||
【主权项】：
一种触控面板测试用探针结构，其包括： 一杆体，其内呈中空，前端具一开口，中空处末端设置有弹性组件；以及 一杆心，其内设置于杆体中空内，后端与弹性组件接触或连接，杆心前端突出杆体开口，杆心前端具有一熔锡； 借由如上结构，一至多个杆体可以与测试制具或测试设备相连接，以杆心前端的锡来接触测试触控面板上的电路组件，因锡具有导电及软的特性,并且能在瞬间接触时减缓探针与测试点的撞击力,而能在不伤及电路组件下，完成触控测试，快速且方便。
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