[实用新型]一种异形非接触IC卡智能测试仪有效

专利信息
申请号: 201320413263.6 申请日: 2013-07-11
公开(公告)号: CN203405823U 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 忻伟 申请(专利权)人: 上海聚硕科技有限公司
主分类号: G06K7/00 分类号: G06K7/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201808 上*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开了一种异形非接触IC卡智能测试仪,旨在提供一种检测准确度高且检测过程效率高的异形非接触IC卡智能测试仪。它包括测试主体,测试主体的表面设有IC卡感应区,测试主体的侧面设有用于与PC机连接的第一通讯接口和若干用于与PC机连接的第二通讯接口,测试主体的内部设有MCU控制器、若干读卡器、与读卡器相对应的天线模块和用于控制天线模块的控制模块,MCU控制器连接读卡器和控制模块,读卡器连接天线模块,控制模块连接天线模块,MCU控制器通过第一通讯接口与PC机连接,所述的读卡器通过第二通讯接口与PC机连接。本实用新型的有益效果是:检测准确度高,检测过程效率高,使用范围广。
搜索关键词: 一种 异形 接触 ic 智能 测试仪
【主权项】:
一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,包括测试主体(1),所述测试主体(1)的表面设有IC卡感应区(2),所述测试主体(1)的侧面设有用于与PC机(7)连接的第一通讯接口(3)和若干用于与PC机(7)连接的第二通讯接口(4),所述测试主体(1)的内部设有MCU控制器(8)、若干读卡器(9)、与读卡器(9)相对应的天线模块(10)和用于控制天线模块(10)的控制模块,所述的MCU控制器(8)连接读卡器(9)和控制模块,所述的读卡器(9)连接控制模块,所述的控制模块连接天线模块(10),所述的MCU控制器(8)通过第一通讯接口(3)与PC机(7)连接,所述的读卡器(9)通过第二通讯接口(4)与PC机(7)连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海聚硕科技有限公司,未经上海聚硕科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201320413263.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top