[实用新型]一种异形非接触IC卡智能测试仪有效
申请号: | 201320413263.6 | 申请日: | 2013-07-11 |
公开(公告)号: | CN203405823U | 公开(公告)日: | 2014-01-22 |
发明(设计)人: | 忻伟 | 申请(专利权)人: | 上海聚硕科技有限公司 |
主分类号: | G06K7/00 | 分类号: | G06K7/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201808 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 实用新型公开了一种异形非接触IC卡智能测试仪,旨在提供一种检测准确度高且检测过程效率高的异形非接触IC卡智能测试仪。它包括测试主体,测试主体的表面设有IC卡感应区,测试主体的侧面设有用于与PC机连接的第一通讯接口和若干用于与PC机连接的第二通讯接口,测试主体的内部设有MCU控制器、若干读卡器、与读卡器相对应的天线模块和用于控制天线模块的控制模块,MCU控制器连接读卡器和控制模块,读卡器连接天线模块,控制模块连接天线模块,MCU控制器通过第一通讯接口与PC机连接,所述的读卡器通过第二通讯接口与PC机连接。本实用新型的有益效果是:检测准确度高,检测过程效率高,使用范围广。 | ||
搜索关键词: | 一种 异形 接触 ic 智能 测试仪 | ||
【主权项】:
一种异形非接触IC卡智能测试仪,其特征是,包括测试主体(1),所述测试主体(1)的表面设有IC卡感应区(2),所述测试主体(1)的侧面设有用于与PC机(7)连接的第一通讯接口(3)和若干用于与PC机(7)连接的第二通讯接口(4),所述测试主体(1)的内部设有MCU控制器(8)、若干读卡器(9)、与读卡器(9)相对应的天线模块(10)和用于控制天线模块(10)的控制模块,所述的MCU控制器(8)连接读卡器(9)和控制模块,所述的读卡器(9)连接控制模块,所述的控制模块连接天线模块(10),所述的MCU控制器(8)通过第一通讯接口(3)与PC机(7)连接,所述的读卡器(9)通过第二通讯接口(4)与PC机(7)连接。
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