[实用新型]自动光学检测设备有效
| 申请号： | 201320230788.6 | 申请日： | 2013-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN203231982U | 公开（公告）日： | 2013-10-09 |
| 发明（设计）人： | 黄鸿杰;李宜达 | 申请（专利权）人： | 德律科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89 |
| 代理公司： | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人： | 王正茂;丛芳 |
| 地址： | 中国台湾台北*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种自动光学检测设备用以检测软性电路板。软性电路板具有多个电路区，沿着软性电路板的长轴排列。自动光学检测设备包含基座、卷轧式装置及光学检测装置。卷轧式装置设置于基座上，并包含第一滚筒及第二滚筒，用以将软性电路板由第一滚筒进给至第二滚筒。光学检测装置设置于基座上，并位于第一滚筒与第二滚筒上方，用以沿着扫描方向往复地扫描电路区。第一滚筒与第二滚筒之间的距离等于或小于任一电路区在长轴上的长度。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种自动光学检测设备，用以检测软性电路板，其特征在于，该软性电路板具有多个电路区，沿着该软性电路板的长轴排列，该自动光学检测设备包含：基座；卷轧式装置，其设置于该基座上，并包含第一滚筒以及第二滚筒，用以将该软性电路板由该第一滚筒进给至第二滚筒；以及光学检测装置，其设置于该基座上，并位于该第一滚筒与第二滚筒上方，用以沿着扫描方向往复地扫描上述这些电路区，其中该第一滚筒与第二滚筒之间的距离等于或小于任一上述这些电路区在该长轴上的长度。
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