[实用新型]一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具有效
申请号: | 201320105881.4 | 申请日: | 2013-03-08 |
公开(公告)号: | CN203102256U | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 任华进;魏广兰 | 申请(专利权)人: | 浪潮电子信息产业股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 250101 山东*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具,包括一测试卡,所述测试卡采用DDR3内存条的结构,两端设置有安装所用的安装孔和卡扣,下端设置有金手指,其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度,所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点,同时在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。使用该测试治具,可以方便的检测主板内存信号的输出情况,快速地排查出内存槽信号问题,进而快速判断出故障电路,使得维修工作方便易行。 | ||
搜索关键词: | 一种 服务器 ddr3 内存 插槽 信号 测试 | ||
【主权项】:
一种服务器DDR3内存插槽的信号测试治具,其特征在于,包括一测试卡,所述测试卡采用DDR3内存条的结构,两端设置有安装所用的安装孔和卡扣,下端设置有金手指,且其长度与DDR3内存条的长度相同宽度不大于DDR3内存条的宽度,同时所述测试卡上设置有地址线测试区域、供电电源测试过孔、若干数据线测试区域和若干时钟测试点,在测试卡的一端还设置有系统管理总线测试区域。
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