[实用新型]OLED加速寿命光学参数自动测试系统有效
| 申请号： | 201320039305.4 | 申请日： | 2013-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN203070735U | 公开（公告）日： | 2013-07-17 |
| 发明（设计）人： | 张光浩;朴正勋 | 申请（专利权）人： | 四川虹视显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 刘世平 |
| 地址： | 611731 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于测试光学参数的测试系统，其公开了一种OLED加速寿命光学参数自动测试系统，准确、高效地实现OLED的光学参数的自动测试。该测试系统还包括主控装置及OLED驱动装置；所述主控装置连接光学测试装置，所述OLED驱动装置连接被测OLED器件,并通过其内部的数据处理模块对所述色彩分析仪回传的采集数据进行处理和生成相应报告，以此实现对被测OLED器件的光学参数的自动测试，减少了人工参与，提高了测试的准确度，并且极大的提高了数据采集频率，从而提高了加速寿命试验的测试效率。本实用新型适用于对OLED器件的光学测试。 | ||
| 搜索关键词： | oled 加速 寿命 光学 参数 自动 测试 系统 | ||
【主权项】：
OLED加速寿命光学参数自动测试系统，包括光学测试装置、被测OLED器件，所述光学测试装置与被测OLED器件通过光信号连接，其特征在于，该测试系统还包括主控装置及OLED驱动装置；所述主控装置连接光学测试装置，所述OLED驱动装置连接被测OLED器件。
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