[发明专利]一种线性校准方法

摘要

本发明公开了一种线性校准方法，在待校准系统的数据在二维坐标系中呈曲线特征时，先选定一组采样数据，并将该组数据两端的两个点确定一条基础直线，然后在基础直线上先后修正截距和斜率，将该组采样数据的点尽量往修正后的直线的一边分布，最后在整体修正偏差较大的点。本发明在校准遇到曲线特征情况时，直接采用通用的直线方式来逼近额定输出值，解决了实际中数值常出现上凸或下凹的曲线特性，提高了实际输出值的精度，降低了控制运算难度，同时便于理解和实现；该方法原理简单且普适性较高，适用于所有理论上呈线性变换的数值。

主权项

一种线性校准方法，其特征在于：包括以下步骤：步骤1，选择待校准系统的一组采样数据，并将该组待校准采样数据的额定输出值和实际输出值作为二维直角坐标系的x值和y值标记在二维直角坐标中，形成一组二维坐标点；步骤2，以这组二维坐标点两端的两个点确定一条初始直线；步骤3，计算除两端的两个点以外的其他所有二维坐标点到所述初始直线的距离，选择距离最大的点，将所述初始直线向该点平移二分之一的距离，得到第二条直线；步骤4，计算这组二维坐标点的每个点到第二条直线的距离，并选择距离最小的点，以该距离最小的点以及第二条直线与y轴的交点确定第三条直线；步骤5，选出与第三条直线间的距离大于预设的误差阈值的二维坐标点，并分别将其x坐标代入第三条直线，得到一组与所选出的二维坐标点一一对应的新的y值，对于第三条直线上方/下方的二维坐标点，将其所对应的新的y值加上/减去一固定值，得到该二维坐标点校准完成的数据；其他与第三条直线的距离小于或者等于误差阈值的二维坐标点，将其x坐标代入第三条直线，得到一组与所选出的二维坐标点一一对应的新的y值，得到该二维坐标点校准完成的数据。