[发明专利]电子组件发射率检测系统有效
| 申请号： | 201310704365.8 | 申请日： | 2013-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN103675020A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 何小琦;宋芳芳;恩云飞;周斌;黄云;冯敬东 | 申请（专利权）人： | 工业和信息化部电子第五研究所 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 王茹;曾旻辉 |
| 地址： | 510610 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子组件发射率检测系统，包括调温系统和热像仪，所述调温系统包括用于将电子组件与外界环境隔离的恒温装置和基于空气热对流调节所述电子组件的温度的控温单元，所述恒温装置上设置有红外探测窗，所述热像仪用于通过所述红外探测窗检测电子组件的红外辐射能。实施本发明的系统，通过恒温装置将电子组件与外界环境隔离，通过控温单元用于基于空气热对流调节由各种材料和元器件组成的电子组件的温度，并在恒温装置上设置红外探测窗，实现精确调控所述电子组件各组成部分的温度，同时对多种材料同步测量，可提高所得发射率的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 组件 发射 检测 系统 | ||
【主权项】：
一种电子组件发射率检测系统，其特征在于，包括调温系统和热像仪，所述调温系统包括用于将电子组件与外界环境隔离的恒温装置和基于空气热对流调节所述电子组件的温度的控温单元，所述恒温装置上设置有红外探测窗，所述热像仪用于通过所述红外探测窗检测电子组件的红外辐射能。
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