[发明专利]一种偏移量的测试方法在审
申请号: | 201310699876.5 | 申请日: | 2013-12-18 |
公开(公告)号: | CN103713272A | 公开(公告)日: | 2014-04-09 |
发明(设计)人: | 陈黎 | 申请(专利权)人: | 上海斐讯数据通信技术有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
地址: | 201616 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种偏移量的测试方法,应用于包括示波器、校准夹具和多个不同类型的待测探棒的测试系统,偏移量的测试方法包括下列步骤:将不同类型的待测探棒对应连接所述示波器的不同测试通道;连接校准夹具的快速边沿端和示波器的快速边沿端口;打开示波器的快速上升开关,将待测探棒中的一个和一标准带宽差分探头连接到所述校准夹具上;通过直接读取示波器上的显示数值来测试标准带宽差分探头和连接到校准夹具上的待测探棒之间的偏移量;消除偏移量。本发明可以兼顾到单端电压探棒和差分探棒,同时可以测试单端电压探棒和差分探棒之间的偏移量,从而提高同时使用单端电压探棒和差分探棒的测试准确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 偏移 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种偏移量的测试方法,应用于包括示波器、校准夹具和多个不同类型的待测探棒的测试系统,所述示波器具有快速边沿端口、快速上升开关和多个测试通道,所述校准夹具具有快速边沿端;其特征在于,所述偏移量的测试方法包括下列步骤:将不同类型的待测探棒对应连接所述示波器的不同测试通道;连接校准夹具的快速边沿端和示波器的快速边沿端口;打开示波器的快速上升开关,将所述待测探棒中的一个和一标准带宽差分探头连接到所述校准夹具上;通过直接读取所述示波器上的显示数值来测试所述标准带宽差分探头和连接到所述校准夹具上的所述待测探棒之间的偏移量;消除偏移量。
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