[发明专利]基于FPGA的仿效ADC的方法及装置有效
申请号: | 201310687989.3 | 申请日: | 2013-12-17 |
公开(公告)号: | CN103699726B | 公开(公告)日: | 2017-01-11 |
发明(设计)人: | 王忆文;王龙;李辉;李平;许芮铭 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50;H03M1/10 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于FPGA的通用的仿效ADC的方法及装置。其中,本发明提供的方法包括:基于FPGA,采用VHDL硬件描述语言编写RTL级代码进行模块化设计,产生ADC的数字输出端的信号及其时序,对ADC进行仿效。本发明提供的装置,包括:用于对仿效ADC的配置寄存器进行读写操作的串行外设接口模块;用于根据仿效ADC的测试模式及参数,产生并输出测试模式的输出数据的测试模式模块;用于模拟ADC的数字输出端的信号的特定时序的时序模拟模块。该装置能模仿ADC的实际工作情况,能和真实系统直接相连,为数字类处理或控制系统提供早期、离线的模拟环境,为项目的开发以及测试提供方便,从而有效减少了项目开发时间。 | ||
搜索关键词: | 基于 fpga 仿效 adc 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种基于FPGA的仿效ADC的方法,其特征在于包括以下具体步骤:基于FPGA,采用VHDL硬件描述语言编写RTL级代码进行模块化设计,对ADC的部分功能进行仿效,所述仿效ADC的部分功能包括:仿效ADC的SPI串行外设接口模块对配置寄存器进行读写操作;仿效ADC根据配置寄存器的值对测试模式及参数进行调整,所述测试模式及参数包括:固定数模式及其对应参数,水平渐变数模式及其对应参数,垂直渐变数模式及其对应参数,条纹数模式及其对应参数;仿效ADC的数字输出端输出信号的特定时序。
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