[发明专利]用于检测航天器材料出气污染的异位装置及其操作方法无效

专利信息
申请号: 201310632267.8 申请日: 2013-12-02
公开(公告)号: CN103698245A 公开(公告)日: 2014-04-02
发明(设计)人: 黄涛;董德胜;宁远涛;刘明;纪晓志 申请(专利权)人: 上海卫星装备研究所
主分类号: G01N5/04 分类号: G01N5/04
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 郭国中
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供的用于检测航天器材料出气污染的异位装置,包括恒温水循环机组2、支撑柜3、真空阀门5、真空测试室6、测控机柜8、抽气系统;真空测试室6安装在支撑柜3上,真空测试室6通过真空阀门5连接抽气系统,抽气系统安装在支撑柜3的内部,恒温水循环机组2用于使真空测试室6中的收集板维持在一个恒定的温度A,测控机柜8分别连接恒温水循环机组2、真空测试室6、抽气系统以提供电源和进行控制。本发明还提供相应的操作方法。本发明使用石英晶体微量天平可以对航天器材料表面污染前后进行定量检测,精度高、稳定可靠、重复性好。
搜索关键词: 用于 检测 航天器 材料 出气 污染 装置 及其 操作方法
【主权项】:
一种用于检测航天器材料出气污染的异位装置,其特征在于,包括恒温水循环机组2、支撑柜3、真空阀门5、真空测试室6、测控机柜8、抽气系统;真空测试室6安装在支撑柜3上,真空测试室6通过真空阀门5连接抽气系统,抽气系统安装在支撑柜3的内部,恒温水循环机组2用于使真空测试室6中的收集板维持在一个恒定的温度A,测控机柜8分别连接恒温水循环机组2、真空测试室6、抽气系统,以提供电源和进行控制。
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