[发明专利]集成电路、测试设备及射频测试系统有效
| 申请号： | 201310628205.X | 申请日： | 2013-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN103852714B | 公开（公告）日： | 2016-11-23 |
| 发明（设计）人： | 陈彦良;彭俊贤;施盈舟;陈俞安;杨钧伟 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人： | 杨颖;张金芝 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号；以及射频接收器，用以依据该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备在该集成电路的外部。本发明还提供一种测试设备及射频测试系统。本发明可降低设计及制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 设备 射频 系统 | ||
【主权项】：
一种集成电路，其特征在于，包括：射频发送器，用以回应测试设备的命令信号以产生射频信号，并传送至模块电路；以及射频接收器，用以依据来自该模块电路的该射频信号产生评估信号，并回报该评估信号至该测试设备，使得该测试设备对该评估信号执行测试分析以决定测试结果，其中该测试设备及该模块电路在该集成电路的外部。
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