[发明专利]一种可控制高精度磨削机理研究实验装置

摘要

发明涉及一种可控制高精度磨削机理研究实验装置，该实验装置包括以下特征：基体上的结构互差120°分布；上T形滑块和下T形滑块相对设置于基体的滑槽中；金刚石工具与下T形滑块精密间隙配合；圆口夹具放置于基体上，毗邻上T形滑块；轴向螺旋测微仪（分辨率为1μm）放置于上T形滑块上，与圆口夹具相互配合；三个径向螺旋测微仪（分辨率为10μm）互差120°分布在基体上；基于该装置可控制、高精度等特性，提出了单颗磨粒、双颗磨粒及多颗磨粒多角度全方位研究磨削机理的新思路，尤其是研究相邻磨粒与磨粒之间不同的轴向间距与径向间距对表面形成机理和材料去除机理的影响规律。本发明结构简单，操作方便，研究方法新颖独特，实用性较强，测试精度高。

主权项

一种可控制高精度磨削机理研究的实验装置，包括基体、上T形滑块、下T形滑块、金刚石工具、轴向螺旋测微仪、径向螺旋测微仪、圆口夹具，其中基体与机床主轴连接杆连接，并通过防松平垫圈和六角螺母固定，所述基体的轴线与机床主轴连接杆的轴线高度重合，所述基体上的结构互差120°分布，其上开有通槽，通槽顶面和底面的两侧有对称分布的直线滑轨，用于上T形滑块和下T形滑块的运动；通槽内侧开有用于安装弹簧的盲孔，所述弹簧的另一端与下T形滑块上的凹槽相连接，构成微小的反向预紧力，用于平衡径向螺旋测微仪的作用力；通槽外侧开有用于安装径向螺旋测微仪的螺纹孔和光孔；所述光孔外侧为一平面，用于定位径向螺旋测微仪；所述基体中心孔位置顶部设有凸孔，底部设有阶梯孔；所述基体顶面靠近通槽部分标有刻度，与上T形滑块上的刻度相对应。