[发明专利]一种光学延迟测量方法及装置

摘要

本发明涉及高精度时间延迟测量技术领域，尤其是涉及一种光学自相关方法测量光学延迟测量方法及装置。本发明针对现有技术中存在的问题，提供一种基于光学自相关的精确延迟测量方法，该方法能够测量小于10皮秒时间延迟，最大测量范围则由自相关仪量程决定，测量相对精度优于1%。本发明通过脉冲激光器、第一光纤耦合器、延迟线装置、第二光纤耦合器、自相关仪、处理器等配合实现。本发明适用于光纤，自由空间光学领域亚纳秒时间延迟的精确测量。

主权项

1.一种光学延迟测量方法，其特征在于包括：步骤1：脉冲激光器输出激光光束；步骤2：第一光纤耦合器将激光器输出光束等分为N路光束，并通过延迟线装置将其中N-1路光束相对前一路进行信号延迟，所述延迟线装置延迟量是通过处理器控制；步骤3：通过第二光纤耦合器将上述N路信号合成为一路信号，所述N路光束信号延迟时间依次为，且小于自相关仪时间量程一半，所述N>1；步骤4：自相关仪将第二光纤耦合器输入端输出的光束分为两路，一路光程不变，另一路连续改变光程，进行光程差扫描，自相关仪输出相对于中心线左右对称的个自相关峰，所述个自相关峰强度比值为；步骤5：通过示波器或者自相关仪自带的显示设备测得自相关峰峰值两两位置相对时间间隔δT，并根据公式（1）得到延迟时间δt：（1）其中f为自相关仪转动臂转速，D为转动臂转动直径，c为光速。