[发明专利]容错检测器组件无效
申请号: | 201310516635.2 | 申请日: | 2013-10-28 |
公开(公告)号: | CN103908271A | 公开(公告)日: | 2014-07-09 |
发明(设计)人: | R.G.沃尼基 | 申请(专利权)人: | 通用电气公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/03;A61B5/055;A61B8/00 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 易皎鹤;刘春元 |
地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供一种容错检测器组件,还提供一种用于形成容错检测器组件的方法。所述方法包括:提供具有多个传感器元件的传感器阵列;提供具有多个电子器件单元的电子器件层,其中所述多个电子器件单元与传感器阵列中的多个传感器元件相对应;在多个电子器件单元中的每一个中引入状态指示器元件,其中该状态指示器元件被构造成存储相应的传感器元件的状态;扫描传感器阵列中的多个传感器元件,以识别传感器阵列中的多个传感器元件的状态;基于识别出的传感器阵列中的多个传感器元件的状态来产生功能图;以及基于功能图来对状态指示器元件进行选择性编程,以形成容错检测器组件。 | ||
搜索关键词: | 容错 检测器 组件 | ||
【主权项】:
一种用于形成容错检测器组件的方法,所述方法包括:提供具有多个传感器元件的传感器阵列;提供具有多个电子器件单元的电子器件层,其中所述多个电子器件单元与所述传感器阵列中的所述多个传感器元件相对应;在所述多个电子器件单元中的每一个中引入状态指示器元件,其中所述状态指示器元件被构造成存储相应的传感器元件的状态;扫描所述传感器阵列中的所述多个传感器元件,以识别所述传感器阵列中的所述多个传感器元件的状态;基于识别出的所述传感器阵列中的所述多个传感器元件的状态来产生功能图;以及基于所述功能图来对所述状态指示器元件进行选择性编程,以形成容错检测器组件。
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