[发明专利]一种感应单元的自动测试装置及其测试方法在审
| 申请号： | 201310482285.2 | 申请日： | 2013-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN103543385A | 公开（公告）日： | 2014-01-29 |
| 发明（设计）人： | 张军;刘泽江 | 申请（专利权）人： | 苏州泛普纳米科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/08 | 分类号： | G01R31/08;G01R31/02 |
| 代理公司： | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人： | 陆明耀;陈忠辉 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种感应单元的自动测试装置，所述感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格分别接入一感应信号采集控制集成电路，并通过所述感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出，包括一中央处理器CPU，所述中央处理器CPU分别与一发送通道模拟开关和一接收通道模拟开关相连接，所述发送通道模拟开关与所述接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，所述A/D转换器与所述中央处理器CPU连接，所述X轴接口与Y轴接口分别连接到所述发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。本发明实现了感应单元的自动测试，节约了人力成本，节省了测试时间，提高了测试效率，保证了测试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 感应 单元 自动 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种感应单元的自动测试装置，所述感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格分别接入一感应信号采集控制集成电路，并通过所述感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出，其特征在于：包括一中央处理器CPU，所述中央处理器CPU分别与一发送通道模拟开关和一接收通道模拟开关相连接，所述发送通道模拟开关与所述接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，所述A/D转换器与所述中央处理器CPU连接，所述X轴接口与Y轴接口分别连接到所述发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。
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