[发明专利]单电阻采样时间补偿方法和系统

摘要

本发明公开了一种单电阻采样时间补偿方法。该方法包括如下步骤：分别计算Ta+(Tb-Ta)/2=T1、Ton+Ts=T2和Tb+(Tc-Tb)/2=T3；判断所述T1是否大于所述T2，得出第一判断结果并根据所述第一判断结果确定第一采样点；判断所述T3是否大于所述T2，得出第二判断结果并根据所述第二判断结果确定第二采样点。本发明还提供了基于同一发明构思的单电阻采样时间补偿系统。本发明的单电阻采样时间补偿方法和系统，通过时间补偿方法实现单电阻电流采样，使得算法简单，克服了传统方法中算法复杂的问题；通过此方法获得的第一采样点和第二采样点，使得采样到精确的电流值，保证了采样精度。

主权项

一种单电阻采样时间补偿方法，通过变频三相逆变电路母线上设置的采样电阻采集母线电流，其特征在于，包括如下步骤：分别计算Ta+(Tb‑Ta)/2=T1、Ton+Ts=T2和Tb+(Tc‑Tb)/2=T3；判断所述T1是否大于所述T2，得出第一判断结果，并根据所述第一判断结果确定第一采样点；判断所述T3是否大于所述T2，得出第二判断结果，并根据所述第二判断结果确定第二采样点；其中，所述Ta为U、V、W三相发出占空比控制信号的时间最小值；所述Tb为U、V、W三相发出占空比控制信号的时间中间值；所述Tc为U、V、W三相发出占空比控制信号的时间最大值；所述Ton为开关管开通时间，所述Ts为开关管稳定时间。