[发明专利]一种基于最小二乘支持向量机的晶体谐振器贮存寿命预测方法有效
| 申请号： | 201310446379.4 | 申请日： | 2013-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN103472340A | 公开（公告）日： | 2013-12-25 |
| 发明（设计）人： | 高成;崔嵬;王香芬;张承 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人： | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种基于最小二乘支持向量机的晶体谐振器贮存寿命预测方法，该方法有四大步骤：步骤一：分析晶体谐振器在长期贮存过程中退化机理，获得主要退化机理对参数变化的影响，确定晶体谐振器的退化敏感参数；步骤二：设计并开展晶体谐振器加速贮存退化试验，对选定的敏感参数进行测量，定期采集试验数据；步骤三：利用最小二乘支持向量机理论处理试验数据，建立在不同加速应力水平下该敏感参数的退化模型；步骤四：建立正常应力下的晶体谐振器参数退化模型，确定失效判据，预测晶体谐振器的贮存寿命。本发明解决了在预测晶体谐振器贮存寿命时遇到的小样本、非线性等实际问题，简化了计算的复杂性，提高了收敛速度和精度，具有较高的推广价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 最小 支持 向量 晶体 谐振器 贮存 寿命 预测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于最小二乘支持向量机的晶体谐振器贮存寿命预测方法，其特征在于：该方法具体步骤如下：步骤一：分析晶体谐振器在长期贮存过程中退化机理，获得主要退化机理对参数变化的影响，确定晶体谐振器的退化敏感参数；步骤二：设计并开展晶体谐振器加速贮存退化试验，对选定的敏感参数进行测量，定期采集试验数据；步骤三：利用最小二乘支持向量机理论处理试验数据，建立在不同加速应力水平下该敏感参数的退化模型；步骤四：建立正常应力下的晶体谐振器参数退化模型，确定失效判据，预测晶体谐振器的贮存寿命。
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