[发明专利]玉米苗期缺苗数的测量方法及装置有效
| 申请号： | 201310370436.5 | 申请日： | 2013-08-22 |
| 公开（公告）号： | CN103413172A | 公开（公告）日： | 2013-11-27 |
| 发明（设计）人： | 王传宇;郭新宇;肖伯祥;杜建军;吴升 | 申请（专利权）人： | 北京农业信息技术研究中心 |
| 主分类号： | G06M11/00 | 分类号： | G06M11/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种玉米苗期缺苗数的测量方法及装置，涉及农作物信息技术领域。该方法包括步骤S1、获取玉米苗期植株图像，得到图像序列I（I1,I2,...In），n为正整数；S2、将所述图像序列I（I1,I2,...In）中的相邻两幅图像的重复区域进行拼接，得到一幅玉米苗期行向图像IW；S3、对所述玉米苗期行向图像IW进行分割与识别，获取玉米苗期植株茎秆位置，并计算玉米苗期植株茎秆行向直线；S4、根据所述玉米苗期植株的茎秆行向直线识别缺苗位置，并计算缺苗数。本发明所述方法及装置具有较高的自动化程度，能够代替人工方法调查玉米苗期缺苗数量，减少人力投入成本，去除人为误差的干扰。使评价玉米种子的品质、测量播种机具的作业精度指标的获取更加简洁。 | ||
| 搜索关键词： | 玉米 苗期 缺苗数 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
一种玉米苗期缺苗数的测量方法，其特征在于，包含以下步骤：S1、获取玉米苗期植株图像，得到图像序列I（I1,I2,...In），n为正整数；S2、将所述图像序列I（I1,I2,...In）中的相邻两幅图像的重复区域进行拼接，得到一幅玉米苗期行向图像IW；S3、对所述玉米苗期行向图像IW进行分割与识别，获取玉米苗期植株茎秆位置，并计算玉米苗期植株茎秆行向直线；S4、根据所述玉米苗期植株的茎秆行向直线识别缺苗位置，并计算缺苗数。
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