[发明专利]自适应时隙同步检测方法和装置有效
申请号: | 201310365053.9 | 申请日: | 2013-08-20 |
公开(公告)号: | CN104427606B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 徐兵;山珊 | 申请(专利权)人: | 联芯科技有限公司 |
主分类号: | H04W56/00 | 分类号: | H04W56/00 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及无线通信领域,公开了一种自适应时隙同步检测方法和装置。本发明中,判断接收信号的相关性高低,并在接收信号的相关性比较高时,获取用于时隙位置判决的相干累加结果,在接收信号的相关性比较低时,则获取用于时隙位置判决的非相干累加结果;接着根据相干累加结果或非相干累加结果,进行时隙位置判决。通过判决接收信号的相关性,自适应的选择使用相干检测或者非相干检测,从而提升检测性能。 | ||
搜索关键词: | 自适应 同步 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种自适应时隙同步检测方法,其特征在于,包含以下步骤:S1.判断接收信号的相关性高低;S2.如果判定所述接收信号为高相关性的接收信号,则获取每个码片位置的相干累加结果;如果判定所述接收信号为低相关性的接收信号,则获取每个码片位置的非相干累加结果;S3.根据所述每个码片位置的相干累加结果或非相干累加结果,进行时隙位置判决;其中,每个码片位置的相干累加结果通过对Nt个时隙对应码片位置的相关值进行相干累加得到;每个码片位置的非相干累加结果通过对Nt个时隙对应码片位置的相关值进行非相干累加得到;每个时隙内每个码片位置的相关值通过对一个时隙内每个码片位置进行主同步码PSC相关运算得到;所述Nt为参与时隙同步检测的时隙个数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联芯科技有限公司,未经联芯科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201310365053.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。