[发明专利]参数产生装置与方法在审
| 申请号： | 201310359044.9 | 申请日： | 2013-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN104375801A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 苏敬尧;黄亮维;王士玮;黄琬珺 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F7/50 | 分类号： | G06F7/50 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明披露了参数产生装置与方法，该参数产生装置与方法用来产生一参数以供电路运作，其中，该参数对应一特性曲线的N次多项式，且该N为正整数。该参数产生装置包含：一储存电路，用来储存至少N+1个初始值，该N+1个初始值对应一基准值以及一单位变化量；以及一参数计算电路，耦接该储存电路，用来在一倍数K为正值时执行至少[(K–1)×N+1]次加法操作或在该倍数K为负值时执行至少–K×N次减法操作，以产生该参数，其中，该倍数K等于一当前值减去该基准值的差除以该单位变化量。 | ||
| 搜索关键词： | 参数 产生 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种参数产生装置，用来产生一参数以供电路运作，其中，所述参数对应一特性曲线的N次多项式，且所述N为正整数，所述装置包含：一储存电路，用来储存至少N+1个初始值，所述N+1个初始值对应一基准值以及一单位变化量；以及一参数计算电路，耦接所述储存电路，用于在倍数K为正值时执行至少[(K–1)×N+1]次加法操作或在所述倍数K为负值时执行至少(–K)×N次减法操作，以产生所述参数，其中，所述倍数K等于一当前值减去所述基准值的差除以所述单位变化量。
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