[发明专利]定位定姿方法及系统有效
申请号: | 201310354922.8 | 申请日: | 2013-08-14 |
公开(公告)号: | CN103411587A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 史云;史中超 | 申请(专利权)人: | 史云;史中超 |
主分类号: | G01C11/00 | 分类号: | G01C11/00 |
代理公司: | 北京邦信阳专利商标代理有限公司 11012 | 代理人: | 胡冰 |
地址: | 430061 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 一种定位定姿方法,包括:1)获取原始图像,对原始图像进行特征点提取,对相邻原始图像之间的特征点进行匹配;2)基于多镜头组合型全景相机的严格成像模型,利用随机抽样一致性算法对图像进行相对定向;3)融合激光点云来计算相邻原始图像之间的距离,从而确定摄影比例尺;4)通过相对定向结果和摄影比例尺进行模型连接;5)基于上述的模型连接结果,使用严格成像模型的严格光束法平差,以摄影比例尺为制约条件,计算得到位置和姿态信息。本发明还提供了一种定位定姿装置,其具有全景相机、激光扫描仪、GPS接收器以及计算装置。本发明实现了精度可控的定位定姿,且造价相对低。 | ||
搜索关键词: | 定位 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种定位定姿方法,其特征在于,包括:1)获取原始图像,对原始图像进行特征点提取,对相邻原始图像之间的特征点进行匹配;2)基于多镜头组合型全景相机的严格成像模型,利用随机抽样一致性算法对图像进行相对定向;3)融合激光点云来计算相邻原始图像之间的距离,从而确定摄影比例尺;4)通过相对定向结果和摄影比例尺进行模型连接;5)基于上述的模型连接结果,使用严格成像模型的严格光束法平差,以摄影比例尺为制约条件,计算得到位置和姿态信息。
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