[发明专利]LEU的C接口信号测试设备及测试方法有效
| 申请号： | 201310332644.6 | 申请日： | 2013-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN103427920A | 公开（公告）日： | 2013-12-04 |
| 发明（设计）人： | 闫炜祎;刘浩;郭超;家天龙 | 申请（专利权）人： | 北京交大思诺科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100081 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种LEU的C接口信号测试设备与测试方法，该测试设备包括：继电控制模块，用于调整C接口信号输入的负载电阻；C1信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理；C6信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理；信号检测模块，用于检测C1信号的参数与C6信号的参数，并提取报文信息、误码率；SCI通信模块，用于实现C接口信号测试设备与上位机的通信。利用该发明提供的设备对C接口信号进行测试时无需单独准备精密仪表，可方便、快速的进行测量，由于体积小、方便携带、供电简单，便于室外、轨旁作业，还具有操作简便、功耗低、成本低等优点。 | ||
| 搜索关键词： | leu 接口 信号 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种LEU的C接口信号测试设备，其特征在于，所述设备包括：继电控制模块，用于调整LEU的C接口信号输入的负载电阻；C1信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C1信号并进行处理；C6信号处理模块，用于采集经过继电控制模块后的C接口信号中的C6信号并进行处理；信号检测模块，用于检测所述C1信号的参数与所述C6信号的参数，并提取报文信息、误码率；SCI通信模块，用于实现所述LEU的C接口信号测试设备与上位机的通信。
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