[发明专利]功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法

摘要

功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法，属于三维SoC测试调度技术领域。本发明解决了在三维SoC中同时包含粗粒度、细粒度IP核的情况下，无法对三维SoC的测试时间进行优化的问题。具体过程为：基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，建立三维SoC测试调度的数学模型其中x_ij表示一个二进制变量，若IP核i和IP核j并行测试，则有x_ij=1，否则x_ij=0，t_j为IP核j的测试时间，|M|表示一个SoC中的IP核总数，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，y_i表示一个二进制变量，设IP核的标号j<i，若存在任意的IP核j与IP核i并行测试，则y_i=0；否则y_i=1；引入变量和u_i=y_iic_i，将数学模型线性化，得到根据约束条件并应用ILP工具求T的最小值。本发明适用于三维SoC测试调度。

主权项

1.功耗约束下基于硬核的三维SoC测试调度方法，其特征在于，所述方法的具体过程为：步骤一：基于硬核的三维SoC包括粗粒度IP核和细粒度IP核，先将细粒度IP核视为在各层上的多个部分，每层上的部分相当于一个粗粒度IP核，将所有粗粒度IP核和细粒度IP核在各层上的部分统一进行编号，建立三维SoC测试调度的数学模型T=Σi=1|M|yi·(maxj=i|M|{xij·tj}),]]>其中|M|表示一个SoC中的IP核总数，x_ij表示一个二进制变量，当编号为i的IP核和编号为j的IP核并行测试时，则x_ij取值为1，否则x_ij取值为0，i和j均为1到|M|之间的任意正整数，t_j为编号为j的IP核的测试时间，表示并行测试的各IP核测试时间的最大值，y_i表示一个二进制变量，存在编号为i的IP核，若存在任意编号为j的IP核与编号为i的IP核并行测试，其中j<i，与IP核i并行测试，则y_i的取值为0；否则y_i的取值为1；步骤二：引入变量ci=maxj=i|M|{xij·tj}]]>和u_i＝y_u·c_i，将步骤一中的数学模型线性化，得到其中c_i表示并行测试的编号为i的IP核测试时间的最大值，u_i表示引入变量y_i后的编号为i的IP核测试时间的最大值，根据约束条件求得整个SoC的测试时间T的最小值，即获得IP核的测试顺序，然后根据该测试顺序依次调度待测的IP核实现SoC测试调度。