[发明专利]基于非线性光学采样的飞秒激光绝对距离测量装置及方法有效
申请号: | 201310326235.5 | 申请日: | 2013-07-30 |
公开(公告)号: | CN103412299A | 公开(公告)日: | 2013-11-27 |
发明(设计)人: | 张弘元;李岩;吴学健;杨宏雷;尉昊赟 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01S11/12 | 分类号: | G01S11/12 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贾玉健 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 基于非线性光学采样的飞秒激光绝对距离测量装置,包括两台重复频率有差异的飞秒激光频率梳、迈克尔逊干涉测距装置、第二类相位匹配非线性光学倍频结构以及数据采集和处理单元;其中两台重复频率有差异的飞秒激光频率梳用来实现时域上的光学扫描;第二类相位匹配非线性光学倍频结构用来在输入脉冲在时域上重合时产生倍频光;数据采集和处理单元探测倍频光信号,对所采集的数据进行差分计算,提取差分后数据中过零点在数组中的序号,计算参考臂与测量臂的长度差,本发明还提供了利用该装置的测量方法,本发明不需要锁定偏置频率,实现基于飞行时间法的连续范围的绝对距离测量,从而拓宽飞秒激光绝对距离测量的应用场合。 | ||
搜索关键词: | 基于 非线性 光学 采样 激光 绝对 距离 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于非线性光学采样的飞秒激光绝对距离测量装置,其特征在于,包括:用于实现时域光学扫描的重复频率有差异的第一飞秒激光频率梳(1)和第二飞秒激光频率梳(2);用于产生待测距离的迈克尔逊干涉测距装置;用于当两台飞秒激光频率梳的光脉冲时域重合时产生倍频光信号的第二类相位匹配非线性光学倍频结构;用于探测倍频光信号并通过差分方式处理所探测的数据、提取过零点在数组中的序号、计算参考臂与测量臂长度差的数据采集和处理单元。
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