[发明专利]一种热电偶高温测试系统无效

专利信息
申请号: 201310304085.8 申请日: 2013-07-19
公开(公告)号: CN103335739A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 马全亮;崔健;杜勇;尚学军;董俊国;康景林;梁晓虎;李春辉;张金萍 申请(专利权)人: 国家电网公司;国网天津市电力公司;北京信普达系统工程有限公司
主分类号: G01K7/04 分类号: G01K7/04
代理公司: 天津才智专利商标代理有限公司 12108 代理人: 庞学欣
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种热电偶高温测试系统。其包括钨铼热电偶、模拟处理电路、A/D转换器、SRAM芯片、CPLD芯片、单片机、冷端补偿温度传感器、USB接口和计算机;本发明提供的热电偶高温测试系统是一种将传感器、适配放大器、A/D转换器、存储器、控制电路、接口电路及微型电池集合在一起的微型化测试系统,本系统中采用SRAM作为存储器,在测试完成后,通过USB接口读取数据,可客观地记录采集测量数据信息。钨铼热电偶具有响应时间短,测量范围宽,可测量2000摄氏度以上的高温段,整个系统运行简单可靠,测量精确,因此能够保证温度测量的准确性。
搜索关键词: 一种 热电偶 高温 测试 系统
【主权项】:
一种热电偶高温测试系统,其特征在于:所述的热电偶高温测试系统包括:钨铼热电偶(1)、模拟处理电路(2)、A/D转换器(3)、SRAM芯片(4)、CPLD芯片(5)、单片机(6)、冷端补偿温度传感器(7)、USB接口(8)和计算机(9);其中:钨铼热电偶(1)为安装在高温测试环境中的温度传感器,其与模拟处理电路(2)相连接,用于采集温度信号;模拟处理电路(2)为采集信号输入处理电路,其与A/D转换器(3相连接;A/D转换器(3)为模数转换器电路,其输出端通过数据总线与SRAM芯片(4)相连接,采样控制端与CPLD芯片(5)相连接;SRAM芯片(4)为静态存储器,其输出端通过数据总线与CPLD芯片(5)相连接,读写控制端与CPLD芯片(5)相连接;CPLD芯片(5)为可编程逻辑芯片,其与单片机(6)相连接,用于产生A/D转换器(3)的采集时序和SRAM芯片(4)的读写控制时序以及实现SRAM芯片(4)与单片机(6)之间的数据连接;单片机(6)主要由微控制器芯片构成,其与USR接口(8)相连接,用于控制温度数据的采集和将采集到的数据通过USB接口(8)发送出去;冷端补偿温度传感器(7)为安装于系统机箱内部的温度传感器,其与单片机(6)相连接,用于检测冷端的温度值;USB接口(8)为USB通信接口电路,其通过USB总线与计算机(9)相连接,其读写控制端与单片机(6)相连接;计算机(9)为PC计算机,用于存储并显示采集到的数据。
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