[发明专利]ATE测试通道设计方法在审
| 申请号： | 201310292364.7 | 申请日： | 2013-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN104280572A | 公开（公告）日： | 2015-01-14 |
| 发明（设计）人： | 曾志敏 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种ATE测试通道设计方法，该方法在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。本发明设计的ATE测试通道，利用开关的开/闭实现待测通道的选择，使测量仪器探头能与负载板固定物理连接，从而大大提高了外接测量仪器与测试通道建立连接、进行测量的效率，降低了工程调试难度，并确保了负载板上通道信号的完整性和物理完整性。 | ||
| 搜索关键词： | ate 测试 通道 设计 方法 | ||
【主权项】：
ATE测试通道设计方法，其特征在于，在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。
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