[发明专利]半导体器件和故障诊断系统无效
| 申请号： | 201310281928.7 | 申请日： | 2013-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN103532549A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 津田和利 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | H03M1/10 | 分类号： | H03M1/10 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 李兰;孙志湧 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供半导体器件和故障诊断系统，在AD转换操作期间，能够对执行AD转换操作的电路进行故障检测。该半导体器件包括：模数转换单元，其将第二模拟信号转换成第一数字信号，其中第二模拟信号是通过将第一模拟信号和具有与第一模拟信号不同信号频带的偏移信号相加获得的；信号提取单元，其从第一数字信号提取第二数字信号，第二数字信号对应于偏移信号的信号频带；以及故障检测单元，其基于第二数字信号和设置值检测模数转换单元中的故障，设置值在生成偏移信号时设置的。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 故障诊断 系统 | ||
【主权项】：
一种半导体器件，包括：模数转换单元，所述模数转换单元将第二模拟信号转换成第一数字信号，所述第二模拟信号是通过将第一模拟信号和具有与所述第一模拟信号不同的信号频带的偏移信号相加而获得的；信号提取单元，所述信号提取单元从所述第一数字信号提取第二数字信号，所述第二数字信号对应于所述偏移信号的信号频带；以及故障检测单元，所述故障检测单元基于所述第二数字信号和设置值，检测所述模数转换单元中的故障，所述设置值是在生成所述偏移信号时设置的。
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