[发明专利]多通道光学检测装置无效
| 申请号： | 201310244170.X | 申请日： | 2013-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN103278449A | 公开（公告）日： | 2013-09-04 |
| 发明（设计）人： | 蔡浩原;李辉;崔大付;陈兴;张璐璐;孙建海;李亚亭;任艳飞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 曹玲柱 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多通道光学检测装置。该多通道光学检测装置包括：光源，用于提供检测光；多通道芯片，位于光源的光路后端，具有多个盛放样品的检测通道；聚焦透镜，位于多通道芯片的光路后端，用于将经过预设检测通道后的检测光聚焦；光检测器，位于聚焦透镜的光路后端，用于收集由聚焦透镜聚焦的检测光；以及透射型空间光调制器，位于光源和多通道芯片之间，用于对照射于其上的检测光进行调制，仅使预设透光图形的检测光通过而到达多通道芯片上对应的检测通道。本发明由透射型空间光调制器代替传统的机械扫描部件，提高了检测的速度和可靠性，降低了装置的复杂度和成本。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 光学 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种多通道光学检测装置，其特征在于，包括： 光源，用于提供检测光； 多通道芯片，位于所述光源的光路后端，具有多个盛放样品的检测通道； 聚焦透镜，位于所述多通道芯片的光路后端，用于将经过预设检测通道后的检测光聚焦； 光检测器，位于所述聚焦透镜的光路后端，用于收集由所述聚焦透镜聚焦的检测光；以及 透射型空间光调制器，位于所述光源和多通道芯片之间，用于对照射于其上的检测光进行调制，仅使预设透光图形的检测光通过而到达所述多通道芯片上对应的检测通道。
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