[发明专利]用于检测产品中的金属污染物的设备和方法在审
申请号: | 201310234989.8 | 申请日: | 2013-06-14 |
公开(公告)号: | CN103592339A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
发明(设计)人: | M·德隆斯 | 申请(专利权)人: | 梅特勒-托利多安全线有限公司 |
主分类号: | G01N27/04 | 分类号: | G01N27/04;G01V3/11 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 韩宏;陈松涛 |
地址: | 英国大曼*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于使用从基于线圈的金属检测器(2)接收的信号(S)来检测产品(P)中的金属污染物(M)的设备(1)包括校准模块(11),该校准模块(11)配置成通过在校准阶段期间从金属检测器(2)接收产品(P)的一个或多个样品的具有电阻分量(R)和电抗分量(X)的信号来确定产品特定的领结形检测包络。该设备(1)还包括检测模块(12),其配置成在针对电阻分量和电抗分量的坐标系中,将信号(S)的矢量表示与产品特定的领结形检测包络相比较,并在信号(S)的矢量表示延伸到领结形检测包络之外的区域时指示在产品(P)中存在金属污染物(M)。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 产品 中的 金属 污染物 设备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种设备(1),所述设备(1)用于使用从基于线圈的金属检测器(2)接收的信号(S)来检测产品(P)中的金属污染物(M),所述信号(S)包括电阻分量(R)和电抗分量(X),其中,所述设备(1)包括:检测模块(12),其被配置成在所述电阻分量和所述电抗分量的坐标系中,将所述信号(S)的矢量表示(P1、P2)与产品特定的领结形检测包络(BT)相比较,并在所述信号(S)的所述矢量表示延伸到所述领结形检测包络(BT)之外的区域时指示在所述产品(P)中存在金属污染物(M);校准模块(11),所述校准模块(11)被配置成通过在校准阶段(Ph1)期间从所述金属检测器(2)接收所述产品(P)的一个或多个样品的信号(S)并使用所述信号(S)确定所述领结形检测包络(BT)的相位取向 和大小,来确定所述产品特定的领结形检测包络(BT),所述领结形检测包络(BT)具有从所述领结形检测包络(BT)的中心(C)在沿着纵轴(z)的相反的方向上延伸到所述领结形检测包络(BT)的相应端部(E1、E2)的两个翼(W1、W2),所述领结形检测包络(BT)的所述端部(E1、E2)的宽度(de、de’)大于所述领结形检测包络(BT)的所述中心(C)的宽度(dc),并且所述大小包括下列项中的至少一个:在所述领结形检测包络(BT)的所述中心(C)处的宽度(dc)、在所述领结形检测包络(BT)的所述端部(E1、E2)处的宽度(de、de’)、所述领结形检测包络(BT)的沿着其纵轴(z)的长度(L、2L)、以及在所述领结形检测包络(BT)的所述纵轴(z)与外边缘(t*)之间的锐角(γ),其中所述外边缘从所述领结形检测包络(BT)的所述中心(C)延伸到所述端部(E1、E2);其中,所述校准模块(11)还被配置成在所述校准阶段(Ph1)期间将从所述金属检测器(2)接收的所述信号(S)的所述电阻分量(R)和所述电抗分量(X)转换成包括相位值和振幅值的极坐标,通过在所述校准阶段期间确定并存储对应每个所述相位值的峰值振幅值来确定产品包络(PE),并使用所述产品包络(PE)来定义所述领结形检测包络(BT);其中,所述校准模块(11)还被配置成通过如下操作来确定所述领结形检测包络(BT)的大小:使所述相位取向 与坐标系的被选择为对准轴的轴对准、通过所述产品包络(PE)绕着所述坐标系的轴的映像而产生所述产品包络(PE)的象限重叠(QO)、确定所述象限重叠(QO)的测量值、并使用所述测量值确定所述领结形检测包络(BT)的大小。
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