[发明专利]信号处理系统、其测试方法以及测试信号产生器有效
申请号: | 201310226206.1 | 申请日: | 2013-06-07 |
公开(公告)号: | CN104242969B | 公开(公告)日: | 2017-03-15 |
发明(设计)人: | 颜仕杰;洪志铭 | 申请(专利权)人: | 晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | H04B1/16 | 分类号: | H04B1/16;H04B17/29 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供的信号处理系统包含一待测模块、一振荡信号产生器、一转移滤波器与一测试模块。该待测模块具有一信号输入端。该振荡信号产生器是用以产生一组振荡信号。该转移滤波器包含受该组振荡信号控制的一混频器。该混频器具有一高频侧与一低频侧。该高频侧是耦接至该待测模块的该信号输入端。该测试模块是耦接至该混频器的该低频侧。当该信号处理系统处于一测试模式,该测试模块将一测试信号提供至该低频侧,以于该混频器的该高频侧产生一高频测试信号。 | ||
搜索关键词: | 信号 处理 系统 测试 方法 以及 产生器 | ||
【主权项】:
一种信号处理系统,包含:一待测模块,具有一信号输入端;一振荡信号产生器,用以产生一组振荡信号;一转移滤波器,包含一基频滤波电路与受该组振荡信号控制的一混频器,该混频器具有一高频侧与一低频侧,该高频侧是耦接至该待测模块的该信号输入端,该基频滤波电路耦接于该低频侧;以及一测试模块,用以提供一测试信号至该低频侧,以于该混频器的该高频侧产生一高频测试信号;其中,于一测试模式中,该转移滤波器提供该高频测试信号至该待测模块的信号输入端;而于一正常运作模式中,该转移滤波器为该待测模块提供一滤波功能。
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