[发明专利]一种基于频率特性的设备内导体材料识别方法有效
| 申请号： | 201310216240.0 | 申请日： | 2013-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN103364451A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 张丹丹;刘亚青;武兰民;王金虎;丁漫江;肖黎明 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于频率特性的设备内导体材料识别方法，用于在不解体设备条件下识别设备内的导体是否为铜材料，包括以下步骤：标定步骤：预先测定样本设备内的铜导体电阻随电源频率的变化曲线；测量步骤：测量待检设备内的导体材料的电阻随电源频率的变化曲线；判定步骤：若待测设备内的导体材料电阻随电源频率的变化曲线在样本设备内的铜导体电阻随电源频率的变化曲线的包络线之内，则待测设备内的导体材料为铜，否则，待测设备内的导体材料非铜。相对于传统的解体破坏式抽查，本发明在不解体设备条件下，有效完成导体材料的识别，具有无损、快速、易操作的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 频率特性 设备 导体 材料 识别 方法 | ||
【主权项】：
一种设备内导体材料识别方法，用于在不解体设备条件下识别设备内的导体是否为铜材料，其特征在于，包括以下步骤：标定步骤：预先测定样本设备内的铜导体电阻随电源频率的变化曲线；测量步骤：测量待检设备内的导体材料的电阻随电源频率的变化曲线；判定步骤：若待测设备内的导体材料电阻随电源频率的变化曲线在样本设备内的铜导体电阻随电源频率的变化曲线的包络线之内，则待测设备内的导体材料为铜，否则，待测设备内的导体材料非铜。
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